功率MOSFET開關損耗測試是PFC電源調試中的難點，由于SPWM每個周期的開關損耗都不相同，傳統(tǒng)通過手光標和數(shù)學運算手動測試的方式已經(jīng)不適用。ZDS5054A示波器標配250Mpts存儲深度，可捕獲多個完整調制周期SPWM波形，自動統(tǒng)計各開關周期的開通/關斷/導通損耗，計算大值、小值、平均值，準確量化開關器件的功率損耗。

3.SOA測試：有效保障MOSFET工作全

功率MOSFET瞬時電壓、電流、功率超出全工作區(qū)，會導致器件損壞、爆炸的風險陡增，常規(guī)調試手段難以對器件的各種工況進行全方面評估。SOA 全工作區(qū)分析功能，可統(tǒng)計MOSFET在所有工況下瞬時參數(shù)超出全工作區(qū)的概率，便于工程師更好的評估電源工作穩(wěn)定性。

4.環(huán)路分析：快速判斷電源環(huán)路穩(wěn)定性

穩(wěn)定的反饋環(huán)路對開關電源來說是非常重要的，如果沒有足夠的相位裕度和幅值裕度，電源的動態(tài)性能就會很差或者出現(xiàn)輸出振蕩。伯德圖可以直觀呈現(xiàn)負反饋系統(tǒng)的增益、相位的頻率響應曲線，通過分析系統(tǒng)的增益余量與相位余量，可以判斷控制系統(tǒng)是否穩(wěn)定。

5.內置雙通道AFG信號發(fā)生器

內置函數(shù)信號發(fā)生器，支持正弦波、三角波、方波、鋸齒波等標準函數(shù)信號輸出，頻率高達30MHz，可以自動掃描電源控制環(huán)路伯德圖，自動顯示相位裕度和增益裕度等參數(shù)，幫助工程師快速進行環(huán)路分析，快速調試效率。